Giới thiệu:
Europe 600 là dòng máy quang phổ nhiễu xạ tia X để bàn kiểu Theta - 2 Theta và Theta - Theta, dùng để phân tích định tính và định lượng những vật liệu có cấu trúc đa tinh thể. Thiết bị có thiết kế nhỏ gọn, chắc chắn, dễ lắp đặt và vận hành, chi phí bảo trì thấp.
Ứng dụng:
- Phân tích pha định tính và định lượng
- Định lượng austenit dư - auxtenit dư
- Tính toán sự kết tinh và kích thước tinh thể
Thông số kỹ thuật:
- Nguồn phát tia X:
+ Công suất tối đa: 600W (có tùy chọn 300W)
+ Độ ổn định đầu ra: ≤25ppm/hr sau 2 giờ bật máy
+ Điện áp lớn nhất: 40kV (có tùy chọn 30kV)
+ Dòng điện lớn nhất: 15mA (có tùy chọn 10m)
+ Bước nhảy điện áp: 0,1kV
+ Bước nhảy dòng điện: 0,1mA
+ Gợn sóng ≤1%rms tại tần số trên 20 kHz, 0.1%rms với tần số dưới 20 kHz
+ Gia nhiệt trước và quá trình ram: điều khiển tự động
+ Nguồn đầu vào: 1 pha, 230 Vac +/-10%, 50 hoặc 60 Hz
- Ống phóng tia X:
+ Loại ống phóng: kính (tùy chọn gốm), Anode bằng Cu
+ Tiêu điểm: 0.4 x 8 mm LFF
+ Công suất tối đa: 600 kW
- Bộ giác kế (đo góc):
+ Cấu hình: Theta - 2 Theta thẳng đứng
+ Đường kính vòng tròn đo: 150mm
+ Dải quét góc phương thẳng đứng: - 5° < 2 Theta < + 145°
+ Bước góc nhỏ nhất: 0.005°
+ Độ tái lập góc: +/- 0.001°
+ Độ chính xác: +/- 0.01
+ Kiểu vận hành: quét liên tục, quét từng bước, quét Theta hoặc 2 Theta, quét nhanh
+ Khe phân tán biến thiên: 0 - 4°
+ Khe nhận biến thiên: 0 - 4°
+ Khe soller: 2.3°
- Bộ thu tín hiệu (detector):
+ Kiểu: đếm điểm nhấp nháy SC (có tùy chọn YAP (Ce))
+ Tốc độ đếm: 10(5) cps (Nal); 2 x 10(7) cps (Yap(Ce))
- Vỏ máy:
+ Kích thước: WxDxH 600x50x750 mm
+ Khối lượng: 130kg
+ Rò rỉ tia X: < 1 mSv/Year (bảo vệ đầy đủ theo tiêu chuẩn quốc tế)
- Bộ phận xử lý dữ liệu:
+ Kết nối với máy tính
+ Những bộ phận được điều khiển bằng máy tính: nguồn phát tia X, giác kế, bộ giữ mẫu, bộ thu tín hiệu
+ Phần mềm xử lý dữ liệu: Polynomial least squares smoothing. Fourier smoothing. Search for Peaks (automatic and manual). Spline background subtraction. Single peak analysis (area, FWHM, centroid, background). Marquardt fit (with pseudo-Voigt and Pearson VII curves, Ka2 contribution, weighted sum of squares). Sum and multiply by a constant. Scale normalization. Zoom. Graphical windows. Overlap and comparison of diffractograms. Multiview function. Cursor scan. Creation of graphic files .BMP. ICDD-PDF2 Card Overlap. Creation of calibration curves. Analysis of unknown samples. Qualitative and quantitative phase analysis. Rietveld analysis, crystalline structural analysis, crystallite size and lattice strain, crystallinity calculation
