Hệ thống thử nghiệm Burn-in công suất cao HPB-5C
Model: HPB-5C
Nhà sản xuất : MCC - Mỹ
I. GIỚI THIỆU:
HPB-5C được thiết kế cho các nhu cầu thử nghiệm burn-in đa dạng của các thiết bị VLSI công suất trung bình.
Lò được cấu hình cho 16 bo mạch burn-in với tối đa 24 thiết bị trên mỗi bo mạch và độ sâu bộ nhớ vectơ 64M.
Cấu hình này hỗ trợ một vùng mẫu cho mỗi bo mạch burn-in.
Hệ thống hoạt động ở chế độ burn-in thông thường lên tới 150°C.
II. ĐẶC TRƯNG:
Kiểm soát nhiệt độ riêng cho từng thiết bị lên tới 150 W
- Kiểm soát điều khiển quá tải
- Vùng mẫu riêng lẻ trên mỗi khe cắm bo mạch burn-in
- Tiêu chuẩn bộ nhớ vector 32M, tùy chọn 64M
- Kiểm tra thiết bị ở nhiệt độ lên tới 150°C
- Tốc độ xung nhịp lên tới 800 MHz
- 128 kênh I/O kỹ thuật số trên mỗi bo mạch burn-in
- Dung lượng hệ thống gồm 384 thiết bị được thử nghiệm với khả năng kiểm soát nhiệt độ riêng cho mỗi thiết bị
- 16 bộ điều chỉnh điện áp có thể lập trình với 1080A của thiết bị được thử nghiệm trên mỗi bảng ghi
- 8 nguồn cung cấp dòng điện cao
(0-4 volt ở mức tối đa 125 amps mỗi cái)
- 8 nguồn cung cấp dòng điện thấp
(0-6 volt ở mức tối đa 10 amp mỗi cái)
III. ƯU ĐIỂM:
Kiểm tra khả năng chịu đựng burn-in của các thiết bị công suất cao
- Đảm bảo ứng suất nhiệt thích hợp cho từng thiết bị
- Đo nhiệt độ thiết bị chính xác hơn
- Thử nghiệm tiết kiệm chi phí hơn do dung lượng hệ thống lớn hơn dẫn đến thông lượng cao hơn
- Thực hiện và kiểm tra song song các thiết bị có số lượng pin cao hoặc nhiều bộ phận
- Chạy số lượng lớn vectơ thử nghiệm mà không cần tải lại tốn thời gian
- Lên đến 16 vùng mẫu khác nhau với một bảng ghi cho mỗi vùng
- Lên đến 2000 Watts của thiết bị trong điều kiện thử nghiệm có sẵn trên mỗi khe cắm
- Dịch và chạy chương trình kiểm tra thiết bị
- Thiết bị đồng hồ tích hợp tính năng tự kiểm tra (BIST) ở tốc độ cao
- Tính linh hoạt để kiểm tra các thiết bị phức tạp
- Lưu trữ thông tin lỗi mà không làm chậm quá trình kiểm tra
- Kiểm tra cả chức năng logic và bộ nhớ
- Kiểm soát bảo vệ hệ thống linh hoạt để có báo cáo chi tiết hơn về lỗi
